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像素數(shù)量的增加會提高制造成本和導(dǎo)致成品率下降。因此，將光學(xué)透鏡與光電轉(zhuǎn)化器件結(jié)合在一起，可以將微小的被檢測物體放大成像在光電轉(zhuǎn)化器件上，也可以實現(xiàn)高解析度檢測效果，所以，實際AOI檢測設(shè)備會根據(jù)客戶的需求進(jìn)行配置。

近年來，CMOS制作工藝的半導(dǎo)體技術(shù)化，加上其快的掃描和圖像傳輸速度優(yōu)勢，CMOS面掃描圖像傳感器也開始被采用在工業(yè)級AOI檢測設(shè)備中， 逐步形成了線掃描CCD圖像傳感器和CMOS面掃描圖像傳感器兩種主流技術(shù)。

AOI圖像采集過程中照明系統(tǒng)也非常重要，選擇光源目的是保證被檢測物體的特征區(qū)別于其他背景，涉及到光源的光譜特性，光源顏色，色溫特性。特殊波長光源一般是指紅外或紫外波長光源，一些特殊材料在可見光范圍內(nèi)吸收差別不大，灰階變化不明顯時可以考慮采用特殊波長光源，比如說利用紫外光能量高可以激發(fā)熒光材料的原理，

AOI檢測不僅僅是一部檢測設(shè)備，對大量不良結(jié)果進(jìn)行分類和統(tǒng)計，可以發(fā)現(xiàn)不良發(fā)生的原因，在工藝改善和生產(chǎn)良率提升中也正逐步發(fā)揮著更重要的作用，因此，可以預(yù)期未來AOI檢測技術(shù)將在半導(dǎo)體與電子電路檢測中將會發(fā)揮越來越重要的作用。并可提供在線檢測方案，以提高生產(chǎn)效率,及焊接質(zhì)量。通過使用AOI作為減少缺陷的工具，在裝配工藝過程的早期查找和消除錯誤，以實現(xiàn)良好的過程控制。